Onto Innovation Inc (NNM)

Onto Innovation Inc. si occupa di progettazione, sviluppo, produzione e assistenza di strumenti di metrologia e ispezione per l'industria dei semiconduttori. L'industria dei semiconduttori comprende strumenti di controllo dei processi che eseguono la metrologia ottica su wafer modellati e non, l'ispezione dei macrodifetti dei wafer, compresa la macroispezione delle caratteristiche dei wafer sia 2D che 3D, i sistemi di litografia dei substrati dei wafer e dei pannelli e il software analitico di controllo dei processi. I suoi prodotti sono utilizzati dai produttori di wafer di silicio, dai fabbricanti di dispositivi a semiconduttore e dai produttori di imballaggi avanzati che operano nel mercato dei semiconduttori. I suoi prodotti comprendono sistemi di metrologia automatizzata, sistemi di metrologia integrata, ispezione/caratterizzazione di tutte le superfici dei wafer di silicio, ispezione dei macrodifetti, classificazione automatizzata dei difetti e analisi dei modelli, analisi della resa, metrologia dei film opachi, tecnologia 4D, litografia per imballaggi avanzati, software di controllo dei processi e software di gestione della resa.